Bruker Corporation（布魯克公司）是全球領(lǐng)先的科學(xué)儀器制造商，成立于1960年，總部位于美國馬薩諸塞州比勒瑞卡（Billerica）。公司專注于 高端分析儀器 的研發(fā)與生產(chǎn)，產(chǎn)品覆蓋 納米技術(shù)、生命科學(xué)、材料研究和工業(yè)應(yīng)用 領(lǐng)域，尤其在 原子力顯微鏡（AFM） 和 探針技術(shù) 方面處于行業(yè)領(lǐng)先地位。

核心技術(shù)領(lǐng)域

1. 原子力顯微鏡（AFM）

• 高分辨率表面形貌與物性測量

• 生物AFM、電學(xué)AFM、納米力學(xué)AFM

2. 探針技術(shù)

• 高性能AFM探針（如 RTESPA-300）

• 專用探針（導(dǎo)電、磁性、生物兼容等）

3. 納米表征系統(tǒng)

• 與光學(xué)顯微鏡、拉曼光譜聯(lián)用

RTESPA-300（高頻AFM探針）產(chǎn)品：

RTESPA-300 是 Bruker 旗下的一款 高頻輕敲模式AFM探針，專為 高分辨率成像 設(shè)計，適用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體和生物樣品的高精度表面形貌分析。

1. RTESPA-300 標準型號與參數(shù)

關(guān)鍵特性

• 超尖銳針尖：針尖半徑 <8 nm，可實現(xiàn)原子級分辨率成像。

• 高頻輕敲模式：共振頻率 300 kHz，減少噪聲干擾，提高掃描速度。

• 高彈性系數(shù)：40 N/m（標準版），適用于大多數(shù)樣品。

• 可選導(dǎo)電涂層（RTESPA-300-CB）：用于 導(dǎo)電AFM（C-AFM） 和 開爾文探針力顯微鏡（KPFM）。

2. 適用AFM系統(tǒng)

• Dimension Icon / FastScan AFM（Bruker 高端AFM）

• MultiMode 8 / NanoScope V（常規(guī)AFM系統(tǒng)）

• BioAFM（生物樣品兼容）

3. 典型應(yīng)用

1. 半導(dǎo)體行業(yè)

• 硅片表面缺陷檢測

• 光刻膠形貌分析

2. 材料科學(xué)

• 石墨烯、MoS? 等二維材料層數(shù)識別

• 納米顆粒、薄膜粗糙度測量

3. 生物研究

• 蛋白質(zhì)、DNA 高分辨成像（需搭配軟懸臂版本）

4. 其他相關(guān)探針型號

總結(jié)

• RTESPA-300 是 Bruker 高性能AFM探針 的代表產(chǎn)品，適用于 高分辨、高速掃描 需求。

• 提供 標準版、軟材料版、硬材料版和導(dǎo)電版，滿足不同實驗需求。

• 廣泛應(yīng)用于 半導(dǎo)體、納米材料、生物醫(yī)學(xué) 等領(lǐng)域。

（注：N/m = 牛頓每米；kHz = 千赫茲；nm = 納米。）

其他注意事項：

更詳細的技術(shù)資料需通過提供項目詳情獲取，歡迎咨詢。

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