Amptek Inc. 成立于 1977 年，總部位于美國馬薩諸塞州，是一家專注于高性能 X射線和伽馬射線探測器、脈沖處理電子設(shè)備及光譜分析系統(tǒng)的領(lǐng)先制造商。Amptek 以其創(chuàng)新的 硅漂移探測器（SDD）、 CdTe/CZT 半導(dǎo)體探測器 和微型 X 射線熒光（XRF）系統(tǒng)聞名，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于 材料分析、核安全、醫(yī)療成像、太空探測及工業(yè)檢測 等領(lǐng)域。Amptek 于 2014 年被 日本濱松光子（Hamamatsu Photonics） 收購，但仍保持獨立品牌運營，持續(xù)推動高分辨率能譜探測技術(shù)的發(fā)展。

X-123 系列 是基于 硅漂移探測器（SDD） 或 CdTe/CZT 探測器 的緊湊型 X 射線能譜儀，集成高性能數(shù)字脈沖處理器，適用于實驗室和便攜式應(yīng)用。

1. X-123 Fast SDD

探測器類型：硅漂移探測器（SDD）

能量分辨率：<125 eV @ 5.9 keV (Mn-Kα)

有效面積：25 mm2 或 50 mm2（可選）

制冷方式：電制冷（Peltier），無需液氮

應(yīng)用：快速 XRF 分析、元素成分檢測

2. X-123 CdTe

探測器類型：碲化鎘（CdTe）半導(dǎo)體

能量范圍：5–150 keV（適合高能 X 射線和伽馬射線）

能量分辨率：<200 eV @ 5.9 keV

特點：室溫工作，適用于高能譜分析（如核材料檢測）

3. X-123 CZT

探測器類型：碲鋅鎘（CZT）半導(dǎo)體

能量范圍：10–500 keV

特點：高靈敏度，用于伽馬射線能譜測量（如放射性同位素識別）

4. X-123 Complete

全集成系統(tǒng)：包含探測器、數(shù)字脈沖處理器（DP5）及軟件

通信接口：USB 或 Wi-Fi（可選）

配套軟件：DPPMCA（實時能譜分析）

5. 可選配件

X-Ray 源：微型 X 射線管（可選配靶材：Ag、Mo 等）

準(zhǔn)直器：優(yōu)化光束聚焦

樣品臺：自動化樣品定位系統(tǒng)

典型應(yīng)用場景

材料科學(xué)：合金成分分析、鍍層厚度測量

環(huán)境監(jiān)測：土壤重金屬檢測

安全篩查：爆炸物或毒品識別

太空探測：衛(wèi)星搭載的 X 射線光譜儀

其他注意事項：

更詳細(xì)的技術(shù)資料需通過提供項目詳情獲取，歡迎咨詢。

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