日本HORIBA成立于1945年，總部位于日本京都，是全球領(lǐng)先的分析與測量儀器制造商。公司最初由京都大學(xué)學(xué)生堀場雅夫創(chuàng)立，最初生產(chǎn)核物理實驗所需的電容器，后因pH計的成功商業(yè)化轉(zhuǎn)型為測量儀器領(lǐng)域的先驅(qū)。其業(yè)務(wù)覆蓋汽車研發(fā)、環(huán)境監(jiān)測、醫(yī)療診斷、半導(dǎo)體制造及科學(xué)研發(fā)等領(lǐng)域，以高精度儀器和可靠性著稱。
核心領(lǐng)域與產(chǎn)品：
汽車測試系統(tǒng)：尾氣分析儀（如MEXA-584L）用于檢測發(fā)動機排放，支持低排放技術(shù)研發(fā)。
環(huán)境監(jiān)測：包括大氣污染監(jiān)測儀、水質(zhì)分析儀（如U-20系列）等，支持多參數(shù)實時監(jiān)測。
科學(xué)儀器：涵蓋電感耦合等離子體光譜儀（ICP-OES）、輝光光譜儀等，用于材料、化學(xué)和半導(dǎo)體分析。
醫(yī)療診斷：體外診斷設(shè)備如血液分析儀。
半導(dǎo)體與計量：高精度傳感器和質(zhì)譜儀（如PP-TOFMS）用于半導(dǎo)體工藝控制。
Ultima Expert
特點：高分辨率（≤0.005nm）、高穩(wěn)定性（RSD≤1%），支持全等離子觀測和遠紫外分析（120-800nm），適用于高鹽、礦物、貴金屬等復(fù)雜樣品。
技術(shù)亮點：雙光柵系統(tǒng)、HDD?檢測器、動態(tài)范圍達10個數(shù)量級。
JY2000-2
特點：價格適中，檢出限低（如鉛5ppb），光學(xué)分辨率<0.005nm，適用于常規(guī)實驗室分析。
ACTIVA-M
特點：基于背照式CCD技術(shù)，全自動多譜線分析，覆蓋120-800nm波長，適用于研發(fā)和質(zhì)控，支持鹵素元素檢測。
PP-TOFMS
特點：結(jié)合輝光放電等離子體與飛行時間質(zhì)譜，實現(xiàn)固體材料的快速深度剖析，深度分辨率達1nm，適用于半導(dǎo)體和鍍層分析。
HORIBA ICP-OES系列：如ULTIMA 2，強調(diào)高靈敏度和低檢測限，支持軸向/徑向觀測模式。
AP-370 系列 空氣污染監(jiān)測儀
EMGA-Expert系列 氧/氮/氫分析儀
EMGA-Pro 系列 氧/氮分析儀
EMIA-STEP 碳/硫分析儀（管式電阻加熱爐）
EMGA-Expert
EMGA-Pro
EMIA-Expert
LabRAM Soleil
SLFA-60
SLFA-6000
XpIoRATM PLUS
XPLORER-NS*
XPLORER-TX/TS*
SEC-Z714SMG*10
SEC-Z717SMG*11
SEC-Z724SMG*10
SEC-Z727SMG*11
FS-3053
LabRAM Odyssey Nano用于物理和化學(xué)成像的 AFM-Raman
LEM系列
LEM-CT
MacroRAM?
XploRA Nano
XGT-9000 Pro
XGT-9000 C
XGT-9000 Expert
H-1系列：
HP-200
HP-300
HO-200
HO-300
HE-200H
HE-200C
HE-200H 系列
HE-200C 系列
HE-200R 系列
HE-300R 系列
HD-200FL 系列
HD-200 系列
HD-300 系列
HC-200F 系列
HC-300F 系列
HC-200CA 系列
HC-200NH 系列
HU-200TB-H
HU-200SS
HR-200
HORIBA的等離子體傳感器產(chǎn)品以高分辨率、寬波長覆蓋和自動化分析為優(yōu)勢，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測及半導(dǎo)體領(lǐng)域。
注意事項
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